Seica在APEX，圣地亞哥，2023年1月24-26日
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尋找前沿測試解決方案的客戶可以來到Seica的2511展位，觀看市場上最新的飛針測試系列，包括PILOT VX平臺、針床ICT解決方案、Compact LR和Mini200以及最新的保形涂層檢測系統(tǒng)Dragonfly。
參觀Apex 2023的游客將看到Compact LR的首次亮相，這是Seica公司已經(jīng)廣為人知的在線針床和Compact Next line解決方案的最新補充，包括在Compact Next系列中。Seica的COMPACT測試系統(tǒng)系列已經(jīng)成為許多合同制造商和OEM的首選解決方案，而COMPACT LR為希望更換原始制造商不再支持的測試系統(tǒng)的客戶提供了額外的傳統(tǒng)更換功能。這一新配置加入了Seica現(xiàn)有的傳統(tǒng)替代解決方案，用于Aeroflex/Marconi等在線測試儀，以及計算機自動化、斯倫貝謝/Factron、GR179X和GR275X系列以及Teradyne的L2XX和L3XX等功能測試儀。展示的Compact LR解決了將Teradyne Spectrum 8851和8852夾具重新部署到現(xiàn)代平臺上的挑戰(zhàn)，該平臺包括新應用所需的所有技術(shù)先進性能，同時允許開發(fā)人員繼續(xù)使用其傳統(tǒng)標準夾具設計。
Seica還將展示Pilot VX，這是飛針測試儀性能的黃金標準，并提供最新的尖端解決方案，以解決電路板制造商從原型設計到生產(chǎn)測試等方面尋求優(yōu)化投資的基本需求。這些新的解決方案，以及Pilot VX平臺在速度和性能方面的顯著改進，現(xiàn)在已經(jīng)使飛針測試儀成為許多高自動化水平的大批量生產(chǎn)環(huán)境中的關鍵解決方案，但Pilot VX平臺還包括一套廣泛的測量硬件和軟件工具，以使原型的測試和驗證能夠以最小的工作量快速完成，這一過程通常是提到飛針測試儀時首先想到的。Seica增加了許多高級功能和工具，專門解決了設計人員在測試原型時的需求。對電路施加激勵并測量結(jié)果是對電路物理訪問的基本要求。PILOT VX能夠探測35μm的焊盤，即使是非常小的目標，也能實現(xiàn)精確的物理訪問，強大的Flylab軟件允許您與電路板“互動”，就像您手中有八個探針，工作臺上有一張儀器表。Pilot VX可用于執(zhí)行驗證、原型或生產(chǎn)測試，無需對測試人員進行深入的特定培訓或生成測試程序?？梢允褂眉傻臄z像頭手動選擇接觸點，然后單擊圖形板圖像，然后簡單直觀的軟件界面通過簡單地選擇測量類型并輸入值來實現(xiàn)參數(shù)和功能測量。系統(tǒng)自動定位移動探頭，測量結(jié)果顯示在集成示波器上。此外，PR升壓功能提供了使用所有8個標準電探針為電路板供電的能力（每個探針最多2A），以實現(xiàn)有源電路測試和其他功能測試，這是設計驗證過程的重要部分。Thermal Scan（熱掃描）選項是另一個有用的驗證工具，允許用戶獲取通電板的配置文件，以檢查電路各個部分的熱行為。Pilot VX還可用于使用我們創(chuàng)新的FlyStrain生成被測設備的壓力/力拓撲圖? 選項Seica曾經(jīng)是傳統(tǒng)夾具解決方案的必需品，現(xiàn)在已經(jīng)將這些新工具移植到飛行探測器上，在那里，陶瓷、晶片或特定航空電子設備和衛(wèi)星板的測試需要精細的探測和可追溯性。
SEICA的VIVA軟件平臺還包括一個快速、簡化的過程，從電路板CAD數(shù)據(jù)開始自動生成和調(diào)試完整的測試程序，使原型電路板能夠立即測試，以檢測任何制造錯誤。使用功能強大的QuickTest軟件，只需了解要測試的電路（不一定是測試器或編程語言），就可以在運行中輕松創(chuàng)建功能測試。移動連接器選件通過專門化一個移動探頭來承載多達14個信道，從而進一步擴展了測試能力，允許訪問邊界掃描電路，并增加了在板編程功能，無需任何外部固定電纜。
對于負責執(zhí)行原始功能測試規(guī)范的設計師來說，Seica的MINI系列中包含的MINI 200提供了廣泛的集成儀器、開關矩陣和用戶電源，使其成為開發(fā)定制測試基準的非常有用和經(jīng)濟高效的平臺。此外，與大多數(shù)自行制造的“機架和堆疊”測試臺不同，Seica的MINI測試解決方案具有標準的“核心”VIP?, 完整的用戶文檔和自我診斷程序，即使在資源周轉(zhuǎn)的情況下，也能保證其長期的可持續(xù)性和可維護性。用戶可以自由選擇配置和編程語言：Seica的VIVA集成平臺（VIP?) 允許輕松集成現(xiàn)成的儀器，并且可以使用VIVA test Studio環(huán)境以及包括LabView?、TestStand?、C和Python在內(nèi)的各種第三方軟件開發(fā)測試序列。此外，在MINI上開發(fā)的程序完全可以移植到其他SEICA系統(tǒng)，這使得制造測試過程的設置快速而簡單。
參觀Seica展臺的游客還可以參觀Dragonfly，這是一種用于共形涂層和通孔技術(shù)（THT）的自動光學檢測解決方案。展示的將是桌面混合版本，該版本具有具有新穎的LED設計的新視差LED掃描系統(tǒng)，使其能夠從保形涂層檢查切換到THT檢查。憑借先進的光學技術(shù)，Dragonfly可以檢測多種缺陷，如污染、分層、氣隙、飛濺、空隙和剝落等。與傳統(tǒng)AOI系統(tǒng)相比，Dragonfly的優(yōu)勢在于易于編程、測試成本更低、幾乎零維護成本，以及雙混合測試能力。